频谱仪自身的相噪是如何影响其相噪测试能力的呢？
曾经有过这样的困惑，频谱分析仪如何有相噪声指标，相噪声不是信号源指标吗？后来才明白，频谱仪的相噪声实际上是内部LO信号的相噪声，它决定了频谱仪近端相噪声的测试能力。频谱仪本身的相噪声越低，相噪声测试能力就越强!
频谱仪本身的相噪是如何影响其相噪测试能力的?
以下图为例。假设RF信号是理想的，LO信号有一定的边带。在下变频过程中，LO信号的边带除了将RF信号变频到IF外，还将一起移动到IF。混频器实际上起着乘法器的作用。RF信号乘以LO信号实现下变频，也乘以LO信号边带中包含的频率成分，使边带也变频到IF附近。一些文献称之为易混频，使LO信号的边带移动到IF。
近端相噪测试通常只关注1MHz频偏范围内的相噪测试。考虑双边带时，FCZ是相应的±1MHz范围内的边带。对于混频器，可以认为2MHz窄带宽内的变频损耗是恒定的，这意味着IF信号的相噪与LO信号的相噪相同，如图2所示!这种相噪是频谱仪本身的相噪“底噪”，一般称为相噪测试灵敏度，决定了频谱仪的相噪测试能力。
当然，如果待测信号的相噪低于频谱仪本身的相噪，则无法测量信号的真实相噪水平。在验证频谱仪相噪指标时，通常会选择更好的相噪信号源，相噪测试结果可以反映频谱仪本身的水平。
如果要准确测试信号的相噪声，则要求频谱仪本身的相噪声比待测信号要好得多。根据经验，至少优秀的10dB，以确保测试精度!
LO的相噪因交易混频而移动到IF输出信号
以上介绍了影响近端相噪声测试能力的因素。随着频率偏差的增加，LO信号的相噪声逐渐降低。此时，决定仪表相噪声测试能力的因素可能不再是LO相噪声，而是仪表的底噪声。
如何判断频谱仪底部噪声是否影响远端相噪声测试?
有两种方法可以尝试：
(1)降低信号功率，观察远端边带是否也随之减少。如果没有变化，说明底部噪声确实影响远端相噪声测试;如果远端边带也减少，说明底部噪声影响不大。
(2)直接关闭信号，确保频谱仪的其他设置保持不变，比较此时的底部噪声和关闭信号前的远端边带功率。如果底部噪声低于远端边带功率(建议超过10dB)，则对测试的影响较小;如果底部噪声与远端边带持平，则不可避免地会影响测试结果!
如果底部噪声影响远端相噪声测试，如何解决?
信号功率可以在一定程度上增加，因为信号功率越高，边带功率也会增加，使其高于一定程度的底部噪声，从而保证测试精度。但不能导致频谱仪过载，否则会扰乱测试结果，必要时可使用陷波器抑制载波信号。或者选择底部噪声较低的频谱仪进行测试!
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