吉时利源表在半导体分立器件 I-V特性测试方案
半导体分立器件是组成集成电路的基�。罅康乃丝诨蛉丝谄骷缍埽骞埽⌒в艿�。直流I-V测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析，或I-V曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，除此以外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。
分立器件I-V特性测试的主要目的是通过实验，帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。
随着器件几何尺寸的减�。氲继迤骷匦圆馐远圆馐韵低车囊笤嚼丛礁�。通常这些器件的接触电极尺寸只有微米量级，这些对低噪声源表，探针台和显微镜性能都提出了更高的要求。
半导体分立器件I-V特性测试方案，泰克公司与合作伙伴使用泰克吉时利公司开发的高精度源测量单元(SMU)为核心测试设备，配备使用简便灵活，功能丰富的CycleStar测试软件，及精准稳定的探针台，为客户提供了可靠易用的解决方案，极大的提高了用户的工作效率。
I-V特性测试难点：
1、种类多
微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，此外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。
2、尺寸小
随着器件几何尺寸的减�。氲继迤骷匦圆馐远圆馐韵低车囊笤嚼丛礁摺ＭǔＵ庑┢骷慕哟サ缂叽缰挥形⒚琢考叮庑┒缘驮肷幢恚秸胩ê拖晕⒕敌阅芏继岢隽烁叩囊�。
I-V特性测试方案：
针对I-V 特性测试难点，安泰测试建议可采用keithley高精度源测量单元(SMU)为核心测试设备，配备使用简便灵活、功能丰富的 CycleStar 测试软件，及精准稳定的探针台。
吉时利方案特点：
丰富的内置元器件库，可以根据测试要求选择所需要的待测件类型;
测试和计算过程由软件自动执行，能够显示数据和曲线，节省了大量的时间;
精准稳定的探针台，针座分辨率可高达0.7um，显微镜放大倍数最高可达x195倍;
最高支持同时操作两台吉时利源表，可以完成三端口器件测试。
测试功能：
二极管特性的测量与分析
极型晶体管BJT特性的测量与分析
MOSFET场效应晶体管特性的测量与分析
MOS 器件的参数提取
系统结构：
系统主要由一台或两台源精密源测量单元(SMU)、夹具或探针台、上位机软件构成。以三端口MOSFET 器件为例，共需要以下设备：
1、两台吉时利 2450 精密源测量单元
2、四根三同轴电缆
3、夹具或带有三同轴接口的探针台
4、三同轴T型头
5、上位机软件与源测量单元(SMU)的连接方式如下图所示，可以使用LAN/USB/GPIB中的任何一个接口进行连接。
系统连接示意图：
以上就是吉时利源表在半导体分立器件 I-V特性测试方案，更多信息欢迎登陆安泰测试。
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